相位仪：实现简单的光学相位成像

相位仪是一种用于测量物体光学相位的仪器。相位成像是一种可获得物体全息图形象信息的技术。许多光学领域的应用需要对物体的相位进行测量，其中包括医学、材料科学、环境监测、纳米技术等。相位成像技术通过对物体吸收、透过、反射光的相位信息进行分析，实现对物体形貌、质量等方面的检测。

相位仪的工作原理是将被测物体光学路径分成两条，使光线分别经过相同光程。在光路中插入一个干涉仪，利用两光束干涉现象，使两个波形干涉相消或相加。干涉信号的变化与被测物体的相位差有关，通过分析干涉信号的变化可以得到物体的相位信息。

相位仪有很多种实现方式，如菲涅尔透镜、旋转偏振片、多个夏普逊干涉仪组合等。近年来，激光干涉技术、全息图技术在相位成像领域也取得了重要的进展。相位仪的应用范围越来越广泛，例如用于纳米结构、膜材料、生物材料等方面的研究。